當(dāng)前位置:首頁(yè) > 產(chǎn)品中心 > 冷熱沖擊試驗(yàn)箱 > 高低溫沖擊老化試驗(yàn)箱 > AP-CJ半自動(dòng)沖擊試驗(yàn)箱
簡(jiǎn)要描述:半自動(dòng)沖擊試驗(yàn)箱目適用的行業(yè)及產(chǎn)品有光電、LED、顯示器、顯示屏連接器,PCB連接器,F(xiàn)PC,電感器,電子元器件,數(shù)碼產(chǎn)品,太陽(yáng)能組件,光伏組件,光纖,LCD,PCB,F(xiàn)PC,微電子,電機(jī),汽車燈產(chǎn)品及零部件等大型產(chǎn)品或者大型零部件。從很低到很高的溫度包括中間的任意溫度均可隨意設(shè)定恒溫或者沖擊試驗(yàn)。
詳細(xì)介紹
品牌 | 愛佩科技 | 加工定制 | 否 |
---|---|---|---|
分類 | 沖擊試驗(yàn)箱 | 內(nèi)箱材質(zhì) | 不銹鋼 |
外箱材質(zhì) | 不銹鋼 |
半自動(dòng)沖擊試驗(yàn)箱目適用的行業(yè)及產(chǎn)品有光電、LED、顯示器、顯示屏連接器,PCB連接器,F(xiàn)PC,電感器,電子元器件,數(shù)碼產(chǎn)品,太陽(yáng)能組件,光伏組件,光纖,LCD,PCB,F(xiàn)PC,微電子,電機(jī),汽車燈產(chǎn)品及零部件等大型產(chǎn)品或者大型零部件。從很低到很高的溫度包括中間的任意溫度均可隨意設(shè)定恒溫或者沖擊試驗(yàn)。
半自動(dòng)沖擊試驗(yàn)箱因?yàn)闇囟葲_擊試驗(yàn)箱本來(lái)就是用于測(cè)試各種工業(yè)材料的結(jié)構(gòu)或復(fù)合材料,在瞬間下經(jīng)不同溫度的連續(xù)環(huán)境下所能忍受的程度,得以在很短時(shí)間內(nèi)檢測(cè)試樣因高溫及低溫的溫度沖擊所引起的物理傷害或化學(xué)變化,從而判斷它的壽命及性能變化。
型號(hào) | AP-CJ-50 | AP-CJ-80 | AP-CJ-150 | AP-CJ-250 | AP-CJ-1000 |
內(nèi)箱尺寸(cm) | 35×35×40 | 50×40×40 | 60×50×50 | 70×60×60 | 100×100×100 |
外箱尺寸(cm) | 以實(shí)際尺寸為標(biāo)準(zhǔn) | ||||
高低溫范圍 | (150℃~A:-45℃;B:-55℃;C:-65℃);:60℃~ 150℃;-10℃~-65℃;) | ||||
升溫時(shí)間(蓄熱區(qū)) | RT~200℃約需30min | ||||
降溫時(shí)間(蓄冷區(qū)) | RT~-70℃約需80min | ||||
溫度轉(zhuǎn)換時(shí)間/回復(fù)時(shí)間 | ≤10sec內(nèi)/≤5min內(nèi) | ||||
溫度控制度/分布度 | ±0.5℃/±2.0℃ |
半自動(dòng)沖擊試驗(yàn)機(jī)本設(shè)備滿足:GB/T2423.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 2部分試驗(yàn)方法 試驗(yàn)A 低溫;GB/T 2423.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)B:高溫;GB/T 10589-2008 低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件;GB/T 11158-2008 高溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件;GB/T 10592 -2008 高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件;GB/T 5170.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法 總則;GB/T5170.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法 溫度試驗(yàn)設(shè)備。
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